SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick3000薄膜厚度測量儀
SpectraThick3000薄膜厚度測量儀特點1) 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數據。
3) 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量3層以內的多層膜。
5) 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7)可測量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP專用)
SpectraThick3000薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick4000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick5000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀特點1） 因為是利用光的方式，所以是非接觸式，非破壞式，不會影響實驗樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數據。
3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4） 可測量3層以內的多層膜。
5） 根據用途可自由選擇手動型或自動型。
6） 產品款式多樣，而且也可以根據顧客的要求設計產品
7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專用）
SpectraThick7000 薄膜厚度測量儀產品規格/型號
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀
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