光學測量儀產品及廠家
美國 d&s 發射率測量儀 ae1/rd1，是專門針對測量物體的輻射率設計的，ae1測量樣品最小直徑為2.25英寸（5.7cm）。可選附件ae-ad1和ae-ad3探測頭能使測量樣品最小直徑為1.0英（2.54cm），可以為圓柱形表面和幾乎任何幾何形狀面需求的客戶提供定制探頭。對小直徑圓柱形面樣品測量，可以測量平行放置的多個樣品。
更新時間:2025-04-30
美國sonix 晶圓檢測設備 autowafe pro.為全自動晶圓檢測設計的機型，主要應用在bond wafer，mems 內部空洞、離層檢測，tsv量測方面。
更新時間:2025-04-30
美國泰克tek keithley半導體參數分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 業內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-04-30
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯合了原子力顯微鏡的核心部件來實現最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現了最優化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-04-30
韓國ecopia霍爾效應測量系統hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:2025-04-30
美國 mmr 霍爾效應測量系統 h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-04-30
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。
更新時間:2025-04-30
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-04-30
美國royec芯片拾取及放置系統die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統
更新時間:2025-04-30
美國royec半自動型芯片拾取系統de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-04-30
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-04-30
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-04-30
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統
更新時間:2025-04-30
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-04-30
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥，食品，農業和化學行業在內的所有行業的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-04-30
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-04-30
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-04-30
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統。最后，該系統具有遠程安全聯鎖和數控電弧檢測系統。
更新時間:2025-04-30
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環的制冷系統只需要極少量的氦氣即可讓系統達到極限低溫。系統具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2025-04-30
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2025-04-30
sinton少子壽命測試儀wct-120，suns-voc，硅片少子壽命測試系統，采用了獨特的測量和分析技術，包括準穩定態光電導(qsspc)測量方法。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:2025-04-30
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:2025-04-30
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數或折射率的光譜數據分析，這些參數都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據cauchy色散、drude振蕩給出的參數描述和擬合材料。
更新時間:2025-04-30
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統中。
更新時間:2025-04-30
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-04-30
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-04-30
德國sentech激動掃描系統mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導率(mdp)同時測量少子壽命、光電導率、電阻率和p/n導電類型的變化。
更新時間:2025-04-30
sensol是sentech光伏產品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護后重新開始生產的時間。
更新時間:2025-04-30
senperc pv 是perc電池制造質量控制的創新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監測沉積過程的穩定性。由此，可以優化維護時間間隔。
更新時間:2025-04-30
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點。 低成本桌面式壽命測量系統，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品。可選的手動操作z軸用于厚度多達156毫米的樣品。標準軟件可輸出可視化的測量結果。
更新時間:2025-04-30
薄膜反射和透射的在線監測系統 rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設計特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進行層沉積過程的在線監測。軟件接口可用于與主機的數據通信。
更新時間:2025-04-30
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-04-30
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-04-30
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質量管理，可對應大規格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統
更新時間:2025-04-30
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀，自由選擇測試氣氛，優化結構設置與閃射光源，16位自動進樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統，設計獨特，性能優異，配備氙燈光源的，高溫測試系統，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內置微型管式爐，更高的測量效率，高數據采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:2025-04-30
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2025-04-30
布魯克 dektakxt 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二管的研發以及材料科學域。
更新時間:2025-04-30
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:2025-04-30
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據astm e408測定熱發射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊，輕巧，堅固耐用，符合人體工程學設計，便于在野外或實驗室中使用。
更新時間:2025-04-30
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