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ED2000能量色散X射線熒光光譜儀

ED2000采用全數字化電子線路設計，其緊密耦合的X射線光學系統和Pentafet探測器專利技術實現了的計數率、的分辨率和的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時，檢出下限可達0.5ppm。

Pentafet專利技術克服了能量色散技術中，元素分辨能力隨計數率增高而下降的缺點，即使在較高計數情況下，仍可以得到優良的元素分辨率。ED2000數字化電路技術提高了信號處理速度，縮短了分析時間。ED2000的最大計數率高于50,000cps；在17,000cps計數率的情況下，分辨率優于140eV。請點擊左邊相關標題，下載關于該產品的PDF格式文件。

能量色散X射線熒光光譜儀XR-306

技術規格

檢測塑膠類樣品和輕質金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限可以達到5ppm。

檢測Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以達到100ppm, Cd的檢出限可以達到20ppm。

儀器配置

產品參數：

儀器型號		XR-306
分析原理		能量色散X射線熒光分析法
分析元素范圍		Na（11）-U（92）任意元素
檢出下限		Cd/Hg/Br/Cr/≤2 ppm Pb/≤5 ppm
樣品形狀		任意大小，任何不規則形狀
樣品類型		塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等
X射線管	靶材	鉬（Mo）靶
	管電壓	5─50KV
	管電流	1─1000ｕA
樣品照射直徑		2、5、8mm
探測器		美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
高壓發生器		美國SPELLMAN高壓發生器
前置放大器		美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
主放大器		美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
AD轉換模塊		美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好
ADC		2048道
濾光片		6種濾光片自動選擇并自動轉換
樣品定位		微動載物平臺（選配件）
樣品觀察		200萬彩色CCD攝像機
微區分析		X光聚焦微區分析系統（選配件）
分析軟件		專利軟件產品 BX-V1.5版本，終身免費升級
分析方法		理論α系數法、基本參數法、經驗系數法
操作系統軟件		WINDOWS XP（正版）
數據處理系統	主機	PC商務機型
	CPU	≥2.8G
	內存	≥512MB
	光驅	8xDVD
	硬盤	≥80G
	顯示器	17寸液晶顯示器
工作環境		溫度10－35С，濕度30－70％RH
重量		60Kg（主機部分）
外形尺寸		550（W）×450（D）×450（H）mm
外部供電電源要求		AC220±10%、50/60Hz
測定條件		大氣環境
測試樣品時間		100－300秒可調

XR-306系列特點

Ø 國家“七.五”與“九.五”熒光分析儀科技攻關的成果；

Ø 無與倫比的理論α系數法分析方法，國內首創；

Ø 直接生成人性化分析報告，也可在分析軟件中定制各種風格的分析報告；

Ø 全封閉鉛板雙迷宮防輻射措施，符合國家標準；

Ø 可以分析Na-U的所有元素（需相關標準樣品）；

Ø 無需制樣，快速無損分析；

Ø 進口主要部件，穩定性好、分析精度高、故障率低；

Ø 國產側窗型X光管，性能穩定，壽命長（5年）更換成本低；

Ø 全中文操作分析軟件，對操作人員要求不高；

Ø 功能強大的分析管理軟件，方便查詢歷史數據；

Ø 自動轉換濾光片系統，國內首創；

Ø 分析不同類型樣品參數自動設定，無需人員操作；

Ø 130倍彩色CCD攝像機可隨時監控樣品測量位置；

Ø 的微動載物平臺可以微調樣品測量點（選配）；

Ø 的X光聚焦微區分析系統可以分析電子元器件微小部位（選配）；

Ø 美國進口電制冷探測器，無需添加液氮，操作維護簡單。

Ø 可測量涂鍍層厚度。

² 儀器核心部件采用美國Amptek公司生產的X-123系統，集成了Si-PIN高分辨率半導體X射線探測器、高性能放大和整形電路、數字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA，最大限度地發揮探測器的性能。

² X射線管高壓發生器采用美國Spellman公司生產的50W高壓電源，性能指標，為儀器的運行提供了保障。

² 采用專業廠家生產的薄鈹窗X射線管，功率達50W，專業化封裝，輻射安全和各項性能指標滿足應用要求。

² 配置多種經過精心設計的濾光片，使得XR-306型X射線熒光能譜儀不僅分析塑膠材料中的有害物質時可以達到非常高的精度，同時，分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質也可以達到很好的精度。

² 濾光片自動轉換讓操作人員無需掌握深入的理論即可進行的測量。

² 推拉式開蓋方式結合開放式樣品腔設計地解決了超大樣品的檢測問題，做到小樣品測試安全方便，大樣品測試只要按系統提示操作同樣能操作人員安全。

² 精心設計的應用程序不僅可以使用戶方便的檢測，還提供非常漂亮的檢測報告，對用戶開放報告格式定制功能，無論何種格式的報告都可以定制。此外還提供了數據輸出到Excel表格的功能，方便用戶進行統計分析。

² 高清晰度攝像頭的設置不僅使檢測報告圖文并茂，結合所配備的多孔經準直器還可以對不均勻樣品進行定點檢測。

Ø 開放式的軟件設計，出廠前已配置了常用材料的分析方法，用戶經過培訓以后也可以建立自己的分析方法，拓展儀器的使用范圍，如其他微量元素的分析和鍍層測厚。

Lab-X3500X湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石臺式能量色散X射線熒光光譜儀

2000年8月，在Lab-X3000取得巨大成功的基礎上，牛津儀器公司推出最新型的臺式能量色散X射線熒光光譜儀Lab-X3500。它把牛津儀器多年來設計生產X射線熒光光譜儀的經驗和最新的硬件、軟件技術的進展結合起來，是一種獨特的、高性能的多元素臺式X射線熒光光譜儀。

Lab-X3500中采用了牛津獨特的FOCUS 5專利技術，實現了對目標元素的最佳激發和目標元素的選擇性檢測；因而，與同類型儀器相比，Lab-X3500具有更低的檢出下限和更高的分析精度，同時具有樣品處理簡化、容易操作等優點。Lab-X3500 即可獨立操作使用，又能與電腦相聯。新的軟件可以顯示光譜，可以顯示質控檢查的曲線圖并能保存校準資料。

Lab-X3500 在許多工業過程中，為質量管理提供了最經濟實用的元素分析手段。目前有幾千臺Lab-X3000光譜儀應用于水泥、石油、塑料、化工、纖維和造紙等工業領域，承擔著重要的日常質量控制工作。它能快速分析多種原料，包括固體、液體、潤滑油、薄膜、涂層以及糊劑等。Lab-X3500 滿足現行的有關國際標準分析方法的要求，如ASTM D4294、IP336、ISO8754、IP352等。

牛津儀器新推出的高精度臺式X射線熒光分析儀，無需氦氣即可分析油品中的硫（S）、氯（Cl）。

Lab-X3500SCl利用新技術測量油品中的硫下限低至3ppm （mg/kg），主要特點有：

容易檢測低含量硫、氯
出廠前校準，用戶使用前無需再校準
無需氦氣
安裝簡單，只需系統供電
操作不受周圍環境變化影響
樣品溫度不會影響檢測結果

Lab-X3500SCl符合下列標準規格：

ISO 20847, ISO 8754, ASTM D4294和IP336

日常操作簡便：只需放入樣品，啟動按鈕，結果幾秒種內顯示。

該公司產品分類：德國馬爾Mahr 粗糙度儀材料試驗無損測量光譜儀光度計圓度儀、粗糙度儀影像測量儀、投影儀顯微鏡三坐標測量機分析儀器長度計量光學儀器

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